小型恒溫成都可程式試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍：-20℃、-40℃、-60℃-70℃~+100℃（+150℃）
溫度波動(dòng)度：≤&plsmn;0.5℃
溫度均勻度：≤2℃
型  號(hào)    工作室尺寸（D*W*H mm）
LK-80          400*400*500     
LK-100         400*500*500     
LK-150         500*500*600     
LK-225         500*600*750     
LK-408         600*800*850     
LK-500         700*800*900     
LK-600         800*850*900     
LK-800        800*1000*1000    
LK-010        1000*1000*1000   
LK-015        1000*1500*1000   
LK-018        1000*1000*1800  
小型恒溫箱符合標(biāo)準(zhǔn): 
GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001、GB/T2423.3-1993、GB/T2423.4-1993、 GB/T 2423.22和GB/T 2423.34
小型恒溫箱箱體結(jié)構(gòu): 
可程式高低溫濕熱試驗(yàn)機(jī)箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SS304）鏡面板，箱體外膽采用不銹鋼制造，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動(dòng)保護(hù).。大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門式開啟，方便維護(hù)和檢修。門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號(hào)線使用。機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式P活動(dòng)輪
小型恒溫成都可程式試驗(yàn)箱控制系統(tǒng): 
溫濕度控制儀表采用韓國進(jìn)口TEMI880 ,LED觸摸屏操作簡單，程式編輯容易，無須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。具有100組程式1000段999循環(huán)步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定大值為99小時(shí)59分。資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)。具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)等功能。具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為穩(wěn)定。
制冷系統(tǒng):
制冷機(jī)采用法國原裝&ldqo;泰康&rdqo;全封閉壓縮機(jī)。 美國&ldqo;艾高&rdqo;干燥過濾器，意大利&ldqo;卡士妥&rdqo;電磁閥冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)?？沙淌礁叩蜏貪駸嵩囼?yàn)機(jī)采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率