勤卓高低溫試驗箱可模擬高溫高濕/高溫低濕/低溫高濕/低溫低濕/高溫/低溫等不同環(huán)境的測試條件，更搭配容易操作及學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性之編程控制及定點控制系統(tǒng)，提供上佳的測試性能。下面分享光學(xué)儀器產(chǎn)品做高低溫箱的測試方案。

1. 測試目的

驗證光學(xué)儀器在高低溫環(huán)境及溫度變化下的成像質(zhì)量、功能性能及結(jié)構(gòu)可靠性，確保其在規(guī)定工作環(huán)境下滿足使用要求。

2. 測試設(shè)備

高低溫（濕熱）試驗箱（溫變速率需可調(diào)）、光學(xué)平臺、分辨率板、平行光管、圖像采集與分析系統(tǒng)及必要的力學(xué)固定裝置。

3. 測試項目與流程

預(yù)處理：樣品在標(biāo)準(zhǔn)實驗室環(huán)境下（如20±5°C）進(jìn)行初始光學(xué)性能檢測（包括成像清晰度、焦距、畸變等）與功能檢查。

高低溫工作試驗：

儀器在通電狀態(tài)下，隨箱溫升至規(guī)定高溫（如+55°C）并穩(wěn)定后，保溫規(guī)定時間（如2小時）。

在此期間，通過內(nèi)置或外部光學(xué)系統(tǒng)，實時或間歇性檢測其關(guān)鍵性能參數(shù)（如光學(xué)分辨率、像質(zhì)穩(wěn)定性、自動對焦功能）。

同理，在規(guī)定低溫（如-40°C）下重復(fù)上述測試。

高低溫貯存試驗：儀器在斷電狀態(tài)下，分別置于極限高溫（如+70°C）和極限低溫（如-45°C）下貯存規(guī)定時間（如24小時）?；謴?fù)至室溫后，檢查外觀、結(jié)構(gòu)并測試光學(xué)性能，評估其恢復(fù)能力。

溫度循環(huán)試驗：在高溫、常溫和低溫間進(jìn)行多次循環(huán)，考驗儀器因材料熱脹冷縮導(dǎo)致的鏡片應(yīng)力、離焦及結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。

4. 合格判據(jù)

外觀結(jié)構(gòu)：無開裂、無變形或涂層剝落。

功能性能：高低溫工作期間功能正常，無中斷；主要光學(xué)性能指標(biāo)（如MTF、分辨率）衰減不超過規(guī)定值。

貯存恢復(fù)：貯存試驗后，性能與功能能恢復(fù)到初始狀態(tài)，無不可逆損傷。

5. 安全與記錄

儀器應(yīng)牢固安裝，避免振動干擾。測試全程需監(jiān)控并記錄溫度曲線與關(guān)鍵性能數(shù)據(jù)，作為判定依據(jù)。

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